PVD 设备市场解析:从溅射镀膜到先进封装,PVD的多元应用场景
在半导体制造中,物理气相沉积(PVD)设备如同 “纳米级金属雕刻师”,承担着芯片互连层、阻挡层、电极等关键金属薄膜的沉积任务。SEMI 数据显示,2023 年全球 PVD 设备市场规模达 78 亿美元,同比增长 11%,其技术演进直接影响着芯片性能、良率与制造成本。
PVD 的主流工艺 —— 磁控溅射,通过高能离子轰击靶材,使靶材原子以纳米级颗粒沉积到晶圆表面。这一过程中,沉积速率与薄膜均匀性是核心矛盾:传统单靶溅射速率可达 500nm/min,但均匀性误差达 ±5%;而先进的多靶共溅射技术(如双靶、四靶配置)通过优化磁场分布与离子束流,将均匀性误差控制在 ±1.5% 以内,同时保持 200nm/min 的高速沉积。应用于逻辑芯片的铜互连阻挡层(如 TaN)时,这种精度可将接触电阻波动控制在 3% 以内,显著提升芯片电学性能一致性。
在 3nm 以下制程,金属互连层数突破 10 层,对 PVD 设备的高深宽比填充能力提出挑战。以 TSV(硅通孔)技术为例,直径 5μm、深度 50μm 的通孔需要沉积均匀的钛 / 铜种子层,传统溅射工艺易在孔口形成 “颈缩” 缺陷,导致电镀后通孔开路。新型 PVD 设备通过引入离子化金属等离子体(IMP)技术,使金属原子以离子态垂直沉积,实现了高深宽比通孔的保形覆盖,缺陷率从传统工艺的 5% 降至 0.3% 以下。这一技术突破,直接推动了台积电 SoIC、英特尔 Foveros 等先进封装技术的规模化应用。
在新兴存储领域,PVD 设备是磁阻随机存储器(MRAM)和阻变存储器(ReRAM)的核心装备。MRAM 的磁性隧道结(MTJ)需要沉积厚度仅 3-5nm 的氧化镁(MgO)势垒层,PVD 通过直流溅射与原位退火工艺,可将 MgO 薄膜的结晶度提升至 95% 以上,使 MRAM 的隧穿磁电阻比(TMR)从 150% 提升至 300%,存储速度提升至纳秒级。而在 ReRAM 中,PVD 沉积的钛酸钡(BaTiO₃)阻变层厚度均匀性误差 <1%,确保了存储器的高可靠性与长寿命(>10^12 次擦写)。
在功率半导体领域,PVD 设备用于沉积氮化镓(GaN)器件的欧姆接触层(如 Ti/Al/Ni/Au 多层膜),通过优化溅射功率与气氛压力,可将接触电阻率降至 1×10^-6 Ω・cm² 以下,较电子束蒸发工艺提升 3 倍。而在 MEMS 传感器制造中,PVD 沉积的压电薄膜(如 AlN)厚度均匀性误差 < 2%,确保了加速度计、陀螺仪等器件的灵敏度一致性,这对消费电子与汽车电子的大规模应用至关重要。
尽管海外厂商(如应用材料、泛林集团)占据全球 PVD 市场 80% 以上份额,但国产设备正快速追赶。2023 年某国产厂商的磁控溅射设备通过 14nm 逻辑芯片产线验证,薄膜均匀性达到国际主流水平;在先进封装领域,国产 PVD 设备已实现 28nm 扇出型封装(Fan-Out)的全覆盖,成本较进口设备低 30%。随着国产靶材、真空系统等配套产业链的完善,PVD 设备的国产替代进程将进一步加速。
厦门毅睿科技-芯壹方 混合型 HIPIMS MFARC PVD 涂层炉
结语:从单晶硅到金属互连,PVD 设备用物理溅射的 “硬科技”,在纳米尺度上构建着芯片的 “神经网络”。无论是追求极致性能的逻辑芯片,还是探索新原理的存储器件,这项技术始终是半导体产业不可或缺的 “金属化引擎”。
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